跌落測試通常是主要用來模擬產(chǎn)品在搬運期間可能受到的自由跌落，考察產(chǎn)品抗意外沖擊的能力。通常跌落高度大都根據(jù)產(chǎn)品重量以及可能掉落幾率作為參考標準。包裝跌落測試，為了證明產(chǎn)品包裝后在模擬不同的棱，角，面于不同的高度跌落于地面的情況，從而了解產(chǎn)品受損情況及評估產(chǎn)品包裝組件在跌落時所能承受的墮落高度及耐沖擊強度。

自由跌落試驗標準大全

GB/T 12085.13-2010 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 第13部分：沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫綜合試驗

GB/T 2423.8-1995 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 第2部分;試驗方法 試驗Ed:自由跌落

GB/T 12085.13-1989 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 沖擊、碰撞或自由跌落與高溫、低溫

JB/T 13702.5-2019 照相機環(huán)境試驗 第5部分：自由跌落試驗

JIS C5402-7-1-2016 電子設(shè)備連接器. 試驗和測量. 第7-1部分: 沖擊試驗 (自由連接器). 試驗7a: 自由跌落 (重復(fù)性)

TIS 2380.2-32-2013 基本環(huán)境試驗.第2部分:試驗.試驗Ed:自由跌落

SN/T 2498.2-2010 進出口煙花爆竹制品基本環(huán)境試驗規(guī)范.試驗Ed:自由跌落

DIN EN 2591-421-2003 航空航天系列.光電連接元件.試驗方法.第421部分:自由跌落,114檢測

KS C 0244-2001 環(huán)境試驗方法.電工·電子產(chǎn)品.自由跌落試驗方法，114檢測

JB/T 8250.4-1999 照相機 自由跌落試驗方法

JB/T 9444.8-1999 復(fù)印機械基本環(huán)境試驗方法 試驗Ec:自由跌落試驗

ISO 9022-13-1998 光學(xué)和光學(xué)儀器 環(huán)境試驗方法 第13部分:沖擊、碰撞或自由跌落與干熱或干冷復(fù)合

ASTM D5276-1998(2009) 自由下落加載集裝箱跌落試驗之標準試驗方法

ASD-STAN PREN 2591-421-1996 航空航天系列.電氣和光學(xué)連接部件.試驗方法

JIS C60068-2-32-1995 環(huán)境試驗.第2部分:試驗.試驗Ed:自由跌落

BS EN 60068-2-32-1993 環(huán)境試驗.試驗方法.試驗Ed.自由跌落，114檢測

SY/T 5422-1991 石油勘探開發(fā)儀器基本環(huán)境試驗方法.試驗F:自由跌落試驗

HB 5871.4-1985 航空輔機產(chǎn)品運輸包裝件試驗方法.自由跌落試驗

NC 97-52-1984 包裝.自由垂直跌落沖擊.測試方法

環(huán)境可靠性實驗室提供自由跌落試驗、振動測試、沖擊試驗、碰撞試驗、隨機振動等可靠性測試服務(wù)，出具第三方中英文檢測報告，彭工：13691093503