實驗室具備從0.2m3至16m3的不同大小尺寸的高低溫溫度試驗系統(tǒng)，具備獨立的搭接樣品的空間，試驗箱一側(cè)均具備出線端子，可以引出電源線或信號線進行產(chǎn)品的工作操作試驗。

高低溫測試試驗是用來確認產(chǎn)品在溫濕度氣候環(huán)境條件下儲存、運輸、使用的適應(yīng)性。

高低溫測試試驗的嚴苛程度取決于高/低溫、濕度和曝露持續(xù)時間。

高低溫High and low temperature testing試驗方法：

預(yù)處理：將被測樣品放置在正常的試驗大氣條件下，直至達到溫度穩(wěn)定。

初步檢測：將測試樣品與標準要求進行比較，滿足要求后直接放入高低溫試驗箱。

樣品斷電時，試驗樣品應(yīng)按標準要求放置在試驗箱內(nèi)，試驗箱（室）內(nèi)溫度應(yīng)降至-50℃，保持4小時；不要在樣品通電狀態(tài)下進行低溫測試，這一步非常重要，因為芯片本身在通電狀態(tài)下會產(chǎn)生20℃因此，在通電狀態(tài)下，通常更容易通過低溫試驗，必須先凍透，再通電試驗。

在低溫階段結(jié)束后5min將試驗樣品轉(zhuǎn)換為已調(diào)整的樣品90℃保持在高溫試驗箱（室）內(nèi)4h或者直到測試樣品達到溫度穩(wěn)定，與低溫測試相反，加熱過程不斷電，芯片內(nèi)部溫度保持高溫，4小時后執(zhí)行A、B測試步驟。

試驗資質(zhì)：

要求具備國家認可的CNAS,CMA第三方檢測機構(gòu)進行試驗，并出具帶CNAS,CMA印章檢測報告。

檢測咨詢136-9109-3503彭工。